< Nebula Điện thoại Di động & Sản phẩm Kỹ thuật số Hệ thống Kiểm tra Bộ Pin Lithium >

Đây là hệ thống kiểm tra toàn diện Pack được áp dụng cho các bài kiểm tra đặc tính cơ bản và bảo vệ của sản phẩm cuối cùng/bán thành phẩm trên dây chuyền sản xuất bộ pin Li-ion điện thoại di động và sản phẩm kỹ thuật số và IC bảo vệ (hỗ trợ các giao thức truyền thông I2C, SMBus, HDQ ).

Hệ thống kiểm tra chủ yếu bao gồm kiểm tra hiệu suất cơ bản và kiểm tra hiệu suất bảo vệ.Kiểm tra hiệu suất cơ bản bao gồm kiểm tra điện áp mạch hở, kiểm tra điện áp tải, kiểm tra tải động, kiểm tra điện trở trong của pin, kiểm tra điện trở nhiệt, kiểm tra điện trở ID, kiểm tra điện áp sạc bình thường, kiểm tra điện áp xả bình thường, kiểm tra điện dung, kiểm tra dòng rò;kiểm tra hiệu suất bảo vệ bao gồm kiểm tra bảo vệ quá dòng sạc: chức năng bảo vệ quá dòng sạc, kiểm tra chức năng bảo vệ và phục hồi thời gian trễ;xả kiểm tra bảo vệ quá dòng: xả chức năng bảo vệ quá dòng, bảo vệ thời gian trễ và kiểm tra chức năng phục hồi;kiểm tra bảo vệ ngắn mạch.

Hệ thống kiểm tra có các tính năng sau: Chức năng báo cáo dữ liệu và thiết kế mô-đun một kênh độc lập, không chỉ có thể nâng cao tốc độ kiểm tra của từng GÓI mà còn dễ bảo trì;trong khi kiểm tra trạng thái bảo vệ của GÓI, người kiểm tra cần được chuyển sang trạng thái hệ thống tương ứng.Thay vì sử dụng rơle, người thử nghiệm sử dụng công tắc không tiếp xúc MOS tiêu thụ điện năng cao để nâng cao độ tin cậy của người thử nghiệm.Và dữ liệu thử nghiệm có thể được tải lên phía máy chủ, dễ kiểm soát, bảo mật cao và không dễ bị mất.Hệ thống kiểm tra không chỉ cung cấp kết quả kiểm tra của hệ thống kiểm tra lưu trữ “Cơ sở dữ liệu cục bộ” mà còn cả chế độ “lưu trữ từ xa của máy chủ”.Tất cả các kết quả kiểm tra trong cơ sở dữ liệu có thể được xuất ra, rất dễ xử lý.“Chức năng thống kê dữ liệu” của kết quả kiểm tra có thể được sử dụng để phân tích “tỷ lệ không thực hiện của mọi dự án kiểm tra” và “tổng kiểm tra” của từng trường hợp PCM.