Ảnh bìa

< Hệ thống kiểm tra pin PCM cho điện thoại di động Nebula Sản phẩm kỹ thuật số >

Tinh vân Điện thoại di động Sản phẩm kỹ thuật số Pin Hệ thống kiểm tra PCM

Thiết bị này được thiết kế để đánh giá nhanh các tính năng bảo vệ và cơ bản của bo mạch bảo vệ pin Li-ion một bus dành cho pin 1 giây và 2 giây, sử dụng IC la bàn dòng TI của Mỹ (chẳng hạn như BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).

TÍNH NĂNG, ĐẶC ĐIỂM

Tương thích với nhiều loại IC đo khí, có độ chính xác cao và tốc độ kiểm tra nhanh.

 

Thiết kế mô-đun độc lập, đa kênh tạo điều kiện bảo trì và thay thế dễ dàng, đồng thời cung cấp khả năng báo cáo dữ liệu phong phú.

Thiết kế mô-đun độc lập, đa kênh tạo điều kiện bảo trì và thay thế dễ dàng, đồng thời cung cấp khả năng báo cáo dữ liệu phong phú.

Tự hào với độ chính xác cao, làm cho nó trở thành một lựa chọn lý tưởng cho khách hàng khó tính của chúng tôi.

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

Mô hình

BAT-NEDQ-04-V010

Tham số

Phạm vi

Sự chính xác

Điện áp đầu ra

5~5OO0mV

±0,2mV

Sản lượng hiện tại

0~3000mA

0,01% RD ± 0,05% FS

Đầu ra hiện tại không đổi

30A~50A

20mS

20A~30A

±0,05% RD±0,02%FS

3A~20A

±0,01% RD±0,02%FS

5mA~3000mA

±0,01% RD±0,02%FS

Đầu Ra Bộ Sạc/Đo Điện Áp

100~5000mV

±0,01% RD±0,01%FS

5000~10000mV

±0,01% RD±0,02%FS

thông tin liên lạc

Viết tin nhắn của bạn ở đây và gửi cho chúng tôi