Tương thích với các thiết bị sạc/xả dòng NEM, dòng LCT và dòng NEH, giải pháp này cho phép phát hiện toàn diện trạng thái pin đồng thời giảm thiểu tổn thất năng lượng trong quá trình thử nghiệm—giảm chi phí vận hành và tăng hiệu suất. Thiết bị đồng hành lý tưởng cho thiết bị kiểm tra pin điện hỗ trợ các thiết bị sạc/xả dòng NEM, dòng LCT và dòng NEH, giúp người dùng phát hiện trạng thái pin hệ thống, giảm tổn thất năng lượng trong quá trình thử nghiệm pin, giảm chi phí thử nghiệm và cải thiện hiệu suất thử nghiệm.